NOISEKEN半導體器件靜電放電模擬器ESS-6008針對于半導體器件設(shè)計的靜電放電模擬器，電壓大8000V測試電壓，小電壓輸出10V，可應用于企業(yè)的研發(fā)和品質(zhì)上，適用于敏感產(chǎn)品的評價試驗。

主要技術(shù)參數(shù)

• 輸出電壓：10～8000V±10％，10V步進
• 輸出極性：正或負
• 重復周期：0.3～99s±10％
• 放電次數(shù)：1～99次/連續(xù)
• 外部觸發(fā)輸入：±15V，BNC接口
• 觸發(fā)輸出：輸出阻抗50Ω，TTL高脈沖5ms，BNC接頭
• 探針臺控制：和探針臺選件，型號：18-00076A連接后控制，Dsub接頭
• ITERLOCK：端口臺、端口間開路時試驗停止（出貨時標配短路棒）
• 驅(qū)動電源：AC100～240±10％ 50Hz/60Hz
• 功耗：25VA
• 尺寸：（W）340×(H)×199×（D）300mm（不含突起部分）
• 重量：約6kg
• 人體模型試驗 (HBM)規(guī)范
• AEC-Q100-002-Rev.D Jul.2003
• ESDA ANSI/EOS/ESD-STM5.1-2001
• IEC61340-3-1Ed.1.0 2002
• IEC60749-26 Ed.1.0 2003
• JEDEC JESD22- A114E Jan.2007
• JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001 Test Method304
• MIL-STD-883F 3015.7 Mar.1989

東莞市科之信電子科技有限公司

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